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LPKF ScanCheck I+
LPKF模版光学检测系统
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ScanCheck I+ 模版光学检测系统可以检验各种工艺制作的焊锡膏漏印模版,将其与原始 CAM 数据进行比较检验。 模版生产商可籍此保证稳定的模版生产质量。
SMD 贴片生产商可以在贴片生产前利用 ScanCheck I+ 验证模版质量,还能对使用中或清洗后的模版进行质量检验,如:是否有堵孔等。
ScanCheck I+ 模版光学检测系统可识别所有的模版缺陷,如:缺孔、开口形状错误、开口、位置偏差、模版使用后污渍堵孔等。
特别是对模版质量要求很高的封装生产领域,ScanCheck I+ 是经济实用且无法替代的检测手段。
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