TGV激光钻孔新标杆:LPKF LIDE®如何做到无裂纹、高深宽比

市面上大多TGV激光钻孔采用高能量激光直接烧蚀玻璃,属于“消融”工艺,虽能成孔,但热效应易导致孔壁微裂纹、碎屑残留,影响玻璃强度与电学性能,难以满足先进封装的严苛要求。LIDE®技术两步法工艺,为先进封装等高要求领域提供了真正可量产的解决方案。

 

【TGV激光钻孔领域技术路径区别】

普通TGV激光钻孔路径:直接烧蚀——以“减法”做“加法”

市面上大多数TGV激光钻孔设备采用高能量激光直接烧蚀玻璃,属于典型的“消融”工艺。其原理是:利用脉冲激光的高峰值功率密度,使玻璃材料瞬间气化或熔化喷出,逐层去除材料直至形成通孔。

LPKF LIDE®技术路径:激光诱导改性与蚀刻两步法工艺

•    第一步:激光改性—只“标记”不“去除” : 超快激光在玻璃内部沿设计路径精确改性,但不直接去除材料。此过程无机械接触、无碎屑、无热应力,奠定了高质量加工的基础。

•    第二步:湿法蚀刻 –让化学完成“精细施工”: 改性后的玻璃浸入蚀刻液,改性区域蚀刻速率比未改性区域快100倍,从而精准形成通孔、盲孔、沟槽等微结构,侧壁光滑、锥度可控。

LIDE®技术本质上是TGV激光钻孔的一种创新实现方式——它用激光“定义”孔的位置,再用化学方式“释放”孔的结构,既保留了激光的高精度与灵活性,又获得了化学蚀刻的无损表面质量。

LIDE®技术产品矩阵:覆盖全场景的TGV钻孔解决方案

针对不同应用需求,LPKF推出了完整的Vitrion产品系列,将LIDE®技术融入量产设备:

LPKF Vitrion S 5000 Gen2:半导体产线的无缝接入者

专为晶圆级封装设计,适配6寸至12寸晶圆。其高密度TGV钻孔能力支持10μm级孔径、大深宽比的通孔阵列,可无缝集成到现有半导体产线,满足2.5D/3D封装对互连密度的极致追求。

LPKF Vitrion M 5000 Gen2:大尺寸基板的精度守护者

面向面板级封装,可加工510×515mm量级的玻璃基板,TGV钻孔位置精度达±5μm,为实现超高密度互连提供了可靠保障。

【LIDE®核心技术优势】

•    质量:无微裂纹、无残余应力,保持玻璃原始强度与光学性能。

•    精度:最小孔径10µm,径深比可达1:50,锥度0.1°~30°可控。

•    效率:激光改性速度高达每秒5000孔,支持连续生产,适配量产需求。

•    灵活性:同一工艺可制作通孔、盲孔、腔体、沟槽等多种结构,为设计提供极大自由度。

传统激光钻孔以“快”见长,适合对成本敏感、质量要求不高的场景;而LIDE®技术以“质”取胜,为先进封装等高要求领域提供了真正可量产的解决方案。

半导体先进封装向更高密度、更高频率演进的今天,TGV的质量直接决定了器件的性能和可靠性。LPKF LIDE®技术正是为这一需求而生:它用激光的精确性定义图形,用化学的温和性完成加工,将激光钻孔的概念从“物理消融”提升到了“分子级加工”的维度。

 

 

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